LG반도체,고속D램 대량시험기술 개발

입력 1998-08-09 20:27수정 2009-09-25 05:15
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LG반도체(대표 구본준·具本俊)는 9일 반도체 제조 공정의 최종 시험단계에서 고속 D램 1백28개를 한꺼번에 시험할 수 있는 기술을 개발했다고 발표했다.

LG반도체에따르면그동안 PC100용 64메가D램을 비롯한 고속 D램의 경우 1개의 시험 장비에서 최고 64개까지 시험할 수 있었으나 이번에 기술 개발로 한번에 1백28개까지 시험할 수 있게 됐다는 것. LG측은 “이번 기술 개발로 연간 2백억원 이상의 제조 경비를 절감할 수 있다”고 설명.

〈홍석민기자〉smhong@donga.com


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