아이티엔티, 국산 비메모리테스터 JH200 양산 공정 투입

반도체 검사장비 제조업체 ㈜아이티엔티(IT&T)는 국산 비메모리 테스터 JH200 모델이 양산공정에 투입되었다고 9일 밝혔다.

국내 주요 반도체 업체에 검사 설비를 공급하고 있는 아이티엔티에 따르면 JH200은 웨이퍼 레벨 검사(Wafer Level Test)부터 패키지 검사(Package Test)까지 모두 적용이 가능한 비메모리 검사설비이다. 아이티엔티 측은 시스템온칩 검사기(SOC Tester) 분야의 꾸준한 연구개발과 안정적인 양산경험을 바탕으로, 다양한 고객의 니즈(Needs)에 부합할 수 있도록 프로브 카드(Probe Card) 등을 포함하여 턴키(Turn-key) 방식의 솔루션을 처음으로 제공하였다고 설명했다.

JH200은 주파수가 최고 200Mhz인 디지털신호의 테스트가 가능하며 1mV 이내의 높은 정밀도의 DC(직류) 측정도 가능하다. 확장 용이한 플랫폼 아키텍쳐 구조로 테스트하고자 하는 대상(Device)의 제원 및 요구사항에 따라 디지털(Digital)보드, DPS보드, PMU보드, SYNC보드 등을 테스트 헤드(Test Head)내 26개의 슬롯(Slot)을 이용하여 원하는 수만큼 장착이 가능하다. 이는 전체 시스템의 채널구조 및 개수를 자유자재로 구성하여 운용할 수 있는 장점을 갖는다고 아이티엔티 측은 설명했다.

JH200에는 자체 개발된 여러 소프트웨어 도구(S/W Tool)들이 탑재되어 있으며, 그 중에서 벡터 컨버터(Vector Convertor)는 기존 외국산장비들의 테스트 벡터(Test Vector)들을 JH200용 벡터로 완벽하게 변환해 줌으로써 프로그램(Program)개발의 부담을 덜어주고, 각 종 분석용 도구와 기본으로 제공되는 STDF 포맷은 칩의 특성 데이터(Characteristic Data) 추출 및 검사 결과 데이터들의 효과적인 관리가 가능하게 한다.

아이티엔티 관계자는 “국산화를 목표로 개발된 JH200 비메모리 테스터는 SOC Test 설비로써, 성능과 효율성 측면에서 외산 장비와 비교하여 충분한 경쟁력을 갖추고 있으며, 검사 비용 측면에서도 현저하게 비용절감 효과를 볼 수 있는 획기적인 제품이다”라고 강조했다.

이어 “현재 AP, Smartcard IC, CIS, DDI 등 다양한 SOC 제품들의 검사가 가능한 설비를 공급 중이다. 아이티엔티는 지난 10여 년간 100억원의 개발비를 투입했으며 100% 아이티엔티의 독자적인 IP 기술을 탑재했고, 국내외 총 60여 건의 지식소유권을 보유하고 있다”고 전했다.

박해식 동아닷컴 기자 pistols@donga.com